在smt贴片加工组装生产中,片式元器件的开裂常见于多层片式电容器(mlcc),mlcc开裂失效的原因主要是由于应力作用所致,包括热应力和机械应力,即为热应力造成的mlcc器件的开裂现象,片式元件开裂经常出现于以下一些情况下。
1.采用mlcc类电容的场合:对于这里电容来说,其结构由多层陶瓷电容叠加而成,所以其结构脆弱,强度低,极不耐热与机械的冲击,这一点在波峰焊时尤为明显。
2.在贴片加工过程中,贴片机z轴的吸放高度,特别是一些不具备z轴软着陆功能的贴片机,吸收高度由片式元件的厚度,而不是由压力传感器来确定,故元件厚度的公差会造成开裂。
3.焊接后,若pcb上存在翘曲应力则,会很容易造成元件的开裂
4.拼板的pcb在分板时的应力也会损坏元件。
5.ict测试过程中的机械应力造成器件开裂。
6.组装过程紧固螺钉产生的应力对其周边的mlcc造成损坏。
为预防片式元件开裂,可采取以下措施:
1.认真调节焊接工艺曲线,特别是升温速率不能太快。
2.贴片时保证贴片机压力适当,特别是对于厚板和金属衬底版,以及陶瓷基板贴装mlcc等脆性器件时要特别关注。
3.注意拼版时的分班方法和割刀的形状。
4.对于pcb的翘曲度,特别是在焊后的翘曲度,应进行有针对性的矫正,避免大变形产生的应力对器件的影响。
5.在对pcb布局时mlcc等器件避开高应力区。