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smt贴片加工百科:球栅阵列bga检测

来源:本站     时间:2020/03/14
球栅阵列(bga)组件是相对较新,更复杂的技术,它逐渐取代了双列直插封装技术(dip)或传统的扁平封装技术。 在bga组装过程中,重要的是要注意垫在包装下,因此肉眼不可见。 由于这个原因,我们不仅需要高质量的焊接工艺,还需要进行bga检测,以确保优化和可靠性。 

bga检测或表面贴装技术(乐橙lc8.com-乐橙lc8app官方下载网站)检测是为了分析芯片和pcb之间的连接。 在bga中,我们必须检查装配的各个方面,例如包装的高度,检查爆米花和连续监测终端的尺寸。 这可以使用各种技术来完成,例如:
  1. 光学检测

  2. 机械检查

  3. x射线检测



光学检测可以通过使用内窥镜密切观察球栅阵列与pcb表面的连接来完成。 市场上有用于光学检测的设备,这些系统使我们清楚地了解pcb和芯片之间的连接,从中可以评估工艺质量。 bga的机械测试是一个破坏性的过程。 大多数破坏性机械测试是通过冲击测试完成的,其中整个组件受到冲击和剪切,然后通过测量应变来评估焊点的机械性能。 



铭华航电bga  x-ray检测设备

bga测试的最先进方法是x射线检测。 通过使用x射线,我们可以简单地了解该过程的更清晰画面。 当完整的pcb经受x射线测试时,所获得的图像清楚地显示球形网格,从那里可以可视地分析不能光学检查的连接。 x射线检测也可以与bga装配过程一起实时进行,以持续监测质量,因为这也有助于我们检查传统技术无法分析的接头,这是迄今为止更好的选择。 

在bga组装过程中主要发生的主要问题是对准问题,与保持封装的恒定隔离高度有关的问题,最重要的是,球栅阵列连接必须是对称的。 如图2所示,a和b代表bga组装的两个不同例子。 这些是使用x射线拍摄的bga组装图像。 从这些图像中,更容易目视检查过程。 我们可以看到包装的对齐情况,并注意到bga中的形状变形必须减小以确保连接的安全性 



另一个非常常见的问题是bga连接的“爆米花”。 当bga的变形增加时,它会导致某些焊球在焊接过程中合并在一起,从而导致组件的“爆裂”,如图3所示。当x射线检测完成时,这很容易找到。 这里需要注意的是,这种影响可能不容易通过光学检查来检查,因为连接的爆裂可能在包装的中心并因此从侧面看不见。 因此,x射线检测为bga装配工艺增添了非常有价值的优势。


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